O ensaio de difração de raios-X (DRX) é utilizado na caracterização de diversos tipos de materiais. Os dados são apresentados em um gráfico de inte...

Analisando as afirmativas sobre o ensaio de difração de raios-X (DRX): a) O ensaio pode ser utilizado na caracterização de um material amorfo, desde que este apresente uma estrutura ordenada de longo alcance. - FALSO. O DRX é mais eficaz na caracterização de materiais cristalinos, pois estes possuem uma estrutura ordenada que permite a difração dos raios-X. b) Através do referido ensaio, é possível caracterizar diversos tipos de materiais cristalinos e semicristalinos. - VERDADEIRO. O DRX é amplamente utilizado para caracterizar materiais cristalinos e semicristalinos, pois os padrões de difração são distintos e característicos de cada tipo de material. c) O espaçamento entre os picos corresponde a uma medida direta do espaçamento entre os átomos na estrutura. - VERDADEIRO. O espaçamento entre os picos no padrão de difração de raios-X está relacionado ao espaçamento entre os planos cristalinos do material. d) A análise de um material semicristalino, quando comparada a uma segunda análise do mesmo material cristalino, apresentará picos característicos com maior intensidade. - FALSO. Um material cristalino apresentará picos mais nítidos e intensos do que um material semicristalino, devido à ordem e regularidade da estrutura cristalina. Portanto, a alternativa correta é: b) Através do referido ensaio, é possível caracterizar diversos tipos de materiais cristalinos e semicristalinos.